Quantitative Partikelanalyse

Für die quantitative Sauberkeitsanalyse von Hochleistungsbauteilen bietet Leica Microsystems das Komplettsystem Leica Cleanliness Expert. Es besteht aus einem vollautomatisierten Auflichtmikroskop, einer Digitalkamera und einem Bildanalysesystem. Da sowohl Länge und Breite als auch die Höhe der Partikel funktionskritische Parameter sein können, bietet Leica Cleanliness Expert diese zusätzliche Dimension als Messgröße. Der Vorteil: Mehr Sicherheit in der Bestimmung der Bauteilsauberkeit.

Fasern und Partikel werden im Live-Bild detektiert und können in reflektierend und nicht-reflektierend unterschieden werden. Messparameter und Systemeinstellungen sind vollständig reproduzierbar; alle Veränderungen werden automatisch im Report dokumentiert. Ein Scanning-Algorithmus erlaubt es, Partikel in beliebiger Größe zu detektieren, in der Ergebnisliste zu reklassifizieren und zu dokumentieren.

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